高分辨率平板探測(cè)器 X 射線 CMOS成像板
- 公司名稱 上海旨安工業(yè)產(chǎn)品檢測(cè)科技有限公司
- 品牌
- 型號(hào)
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
- 更新時(shí)間 2024/4/30 11:22:03
- 訪問(wèn)次數(shù) 1361
聯(lián)系我們時(shí)請(qǐng)說(shuō)明是化工儀器網(wǎng)上看到的信息,謝謝!
超聲波檢測(cè)儀,相控陣探傷儀,超聲波探頭,超聲波測(cè)厚儀,涂鍍層測(cè)厚儀,磁粉探傷儀,渦流探傷儀,射線機(jī),粗糙度儀,內(nèi)窺鏡,元素分析儀,萬(wàn)睿視射線數(shù)字平板探測(cè)器,硬度計(jì)
高分辨率平板探測(cè)器 X 射線 CMOS成像板
F2923-NDT 為二維 CMOS X 射線平板探測(cè)器,具有高分辨率、 低噪聲、大面陣、高幀率和寬動(dòng)態(tài)范圍等特點(diǎn)。綜合應(yīng)用派登斯的 CMOS 圖像傳感器設(shè)計(jì)技術(shù)及 ADC 集成一體化方案,產(chǎn)品結(jié)構(gòu)緊湊,技術(shù)性能優(yōu)良?;谄淇煽啃愿摺?易于集成等特點(diǎn),可有效降低在苛刻環(huán)境中、重負(fù)荷應(yīng)用下 對(duì)成像系統(tǒng)的校準(zhǔn)和維護(hù)要求。
CMOS平板探測(cè)器有三款可以選擇:F1512-NDT, F2923-NDT, F3035-NDT
產(chǎn)品特點(diǎn)
? 精細(xì)像素 ? 圖像延遲小 ? ADC 集成一體化結(jié)構(gòu) ? 快速的模式切換
? 極低噪聲 ? 穩(wěn)定的數(shù)據(jù)偏移校正 ? 極寬動(dòng)態(tài)范圍 ? 低功耗
? 高幀率 ? 快速的網(wǎng)絡(luò)數(shù)據(jù)接口 ? 抗輻照
產(chǎn)品應(yīng)用
? 無(wú)損檢測(cè) ? 高等院校 ? 研究院所 ? 材料科學(xué) ? 航空航天
高分辨率平板探測(cè)器 X 射線 CMOS成像板
上海玖橫儀器有限公司是一家由多名無(wú)損檢測(cè)技術(shù)銷售團(tuán)隊(duì)組織成立,專業(yè)從事無(wú)損檢測(cè)技術(shù)設(shè)備的研發(fā)、銷售及技術(shù)服務(wù)于一體的企業(yè)。主要產(chǎn)品有:電磁超聲高溫腐蝕檢測(cè)儀(高溫腐蝕儀)、電磁超聲探傷儀、超聲波探傷儀、超聲波測(cè)厚儀等檢測(cè)儀器;同時(shí)代理國(guó)內(nèi)國(guó)外超聲波成像系統(tǒng)(TOFD、相控陣、水浸 C 掃描)和射線成像系統(tǒng)(CR/DR/實(shí)時(shí)成像系統(tǒng))、汽車點(diǎn)焊分析儀、內(nèi)窺鏡檢測(cè)設(shè)備及自動(dòng)化檢測(cè)設(shè)備等。