EEM View 日立熒光分布成像系統(tǒng)
- 公司名稱 武漢市艾德寶儀器設(shè)備有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號(hào) EEM View
- 產(chǎn)地 武漢市江夏區(qū)廟山工業(yè)園
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2024/6/2 14:21:53
- 訪問(wèn)次數(shù) 1023
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產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
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儀器種類 | 光學(xué)成像 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,環(huán)保,食品,生物產(chǎn)業(yè),農(nóng)業(yè) |
一、熒光分布成像系統(tǒng)(EEM View)簡(jiǎn)介
作為熒光分光光度計(jì)的配件系統(tǒng),這是創(chuàng)將相機(jī)與熒光分光光度計(jì)的結(jié)合,融合了智能算法的技術(shù)。能夠同時(shí)獲取樣品圖像和光譜信息。
將它配置到熒光分光光度計(jì)中,改變了常規(guī)熒光光度計(jì)只能獲得樣品表面區(qū)域平均化信息的現(xiàn)狀,可以查看樣品圖像任意區(qū)域的光譜信息,十分適合涂料、材料、油墨、LED、化工等領(lǐng)域。
新型熒光分布成像系統(tǒng)可安裝到日立F-7000/71000熒光分光光度計(jì)的樣品倉(cāng)內(nèi)。入射光經(jīng)過(guò)積分球漫反射后均勻照射到樣品,利用熒光光度計(jì)標(biāo)配的熒光檢測(cè)器可以獲得樣品熒光光譜,積分球下方的CMOS相機(jī)可獲得樣品圖像,并利用*的AI光譜圖像處理算法,可以同時(shí)得到反射和熒光成分圖像。
二、 熒光分布成像系統(tǒng)特點(diǎn):
1. 可以測(cè)定樣品的光譜數(shù)據(jù)(反射光、熒光特性)
在不同光源條件下(白光和單色光)拍攝樣品圖像,(區(qū)域:Φ20mm、空間分辨率:0.1 mm左右、波長(zhǎng)范圍:360-700nm),同時(shí)利用的光譜算法,分別顯示熒光圖像和反射圖像, 根據(jù)圖像可獲得不同區(qū)域的光譜信息(熒光光譜、反射光譜)
熒光分布成像系統(tǒng)軟件分析(EEM View Analysis)界面(樣品:LED電路板)
2. 樣品安裝簡(jiǎn)單,適用于各種樣品測(cè)試
樣品只需擺放到積分球上,安裝十分簡(jiǎn)單!
豐富的樣品支架
支持測(cè)量的校正工具
熒光分布成像系統(tǒng)是一種的技術(shù),新型熒光分布成像系統(tǒng)可安裝到日立F-7000/71000熒光分光光度計(jì)的樣品倉(cāng)內(nèi)。入射光經(jīng)過(guò)積分球漫反射后均勻照射到樣品,利用熒光光度計(jì)標(biāo)配的熒光檢測(cè)器可以獲得樣品熒光光譜,積分球下方的CMOS相機(jī)可獲得樣品圖像,并利用*的AI光譜圖像處理算法,可以同時(shí)得到反射和熒光成分圖像。