TM4000臺(tái)式電鏡
- 公司名稱(chēng) 北京創(chuàng)恒科捷科技有限公司
- 品牌 Hitachi/日立
- 型號(hào)
- 產(chǎn)地 日本
- 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷(xiāo)商
- 更新時(shí)間 2024/9/12 9:33:07
- 訪問(wèn)次數(shù) 3721
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| 背散射電子圖像分辨率 | 5nm | 產(chǎn)地類(lèi)別 | 進(jìn)口 |
|---|---|---|---|
| 二次電子圖象分辨率 | 4nmnm | 放大倍數(shù) | 15000x |
| 加速電壓 | 15kV | 價(jià)格區(qū)間 | 50萬(wàn)-100萬(wàn) |
| 儀器種類(lèi) | 鎢燈絲 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,生物產(chǎn)業(yè),能源,電子,冶金 |
TM4000臺(tái)式電鏡可在低真空的條件下進(jìn)行多種觀察，對(duì)于容易產(chǎn)生靜電的粉末或含水等樣品，可結(jié)合其目的進(jìn)行觀察。
可在低真空的條件下進(jìn)行二次電子像（表面形狀）觀察。
無(wú)需預(yù)處理，也可以觀察絕緣物和含水、含油樣品的表面
不僅是觀察傳統(tǒng)的導(dǎo)電性樣品，還可以在無(wú)預(yù)處理的條件下觀察絕緣物和含水、含油樣品。可快速進(jìn)行二次電子像與背散射電子像之間的切換。
高感度低真空二次電子檢測(cè)器
采用高感度低真空二次電子檢測(cè)器(UVD)。通過(guò)檢測(cè)由于電子線(xiàn)與殘留氣體分子之間的碰撞而產(chǎn)生的光，可以觀察帶有二次電子信息的圖像。此外，通過(guò)控制該檢測(cè)器，來(lái)檢測(cè)電子照射所產(chǎn)生的光，可以獲得CL信息（UVD-CL：帶有CL信息的圖像）。
高感度低真空二次電子檢測(cè)器的檢測(cè)原理
可支持加速電壓20 kV
TM4000Ⅱ/TM4000Plus II可支持加速電壓20 kV。
憑借EDS分析（選配），可進(jìn)行更高計(jì)數(shù)率解析。
通過(guò)加速電壓20 kV，實(shí)現(xiàn)EDS元素分布圖的高S/N化
EM 樣品臺(tái)（選配）
可輕松觀察 STEM 圖像
TM4000臺(tái)式電鏡與全新開(kāi)發(fā)的 STEM 樣品臺(tái)和高靈敏度低真空二次電子檢測(cè)器(UVD)配合使用，可輕松觀察小倍率 STEM 圖像。
可輕松觀察薄膜樣品和生物樣品。
樣品：老鼠腎臟
加速電壓：15 kV
觀察信號(hào)： STEM 圖像
放大倍率：1000倍
樣品：老鼠肝臟
加速電壓：15 kV
觀察信號(hào)： STEM 圖像
倍率：5000倍
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