Omniscan X3 相控陣儀
- 公司名稱 增宜檢測(cè)技術(shù)(上海)有限公司
- 品牌 OLYMPUS/奧林巴斯
- 型號(hào)
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時(shí)間 2024/8/21 9:06:25
- 訪問(wèn)次數(shù) 884
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奧林巴斯超聲波相控陣OMNISCAN MX2,英國(guó)三維Third Dimension GapGun Pro激光間隙測(cè)量?jī)x,美國(guó)萬(wàn)睿視Varex射線數(shù)字平板探測(cè)器,奧林巴斯超聲波探傷儀,奧林巴斯渦流探傷儀,內(nèi)窺鏡,元素分析儀,美國(guó)磁粉滲透
產(chǎn)地類別 | 國(guó)產(chǎn) | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工 |
提供全聚焦方式(TFM)功能的Omniscan X3 相控陣儀
信心滿滿,昭然可見(jiàn)
Omniscan X3 相控陣儀是一款功能齊備的相控陣工具箱。這款儀器所提供的性能強(qiáng)大的工具,如:全聚焦方式(TFM)圖像和高級(jí)成像功能,可使用戶更加充滿信心地完成檢測(cè)。
*創(chuàng)新的全聚焦方式(TFM)
更好的缺陷成像性能,可以更清晰地顯示微小的缺陷
可為早期的高溫氫致(HTHA)缺陷成像,
以在關(guān)鍵的早期探測(cè)到這種缺陷
機(jī)載聲學(xué)影響圖(AIM)的反射率模擬器有助于
以圖像方式顯示全聚焦方式(TFM)的靈敏度,還可以根據(jù)實(shí)際情況進(jìn)行調(diào)節(jié)
屏幕上最多可顯示4種模式的全聚焦方式(TFM)圖像,有助于缺陷的解讀和定量
改進(jìn)的相控陣技術(shù)
最大脈沖重復(fù)頻率是OmniScan MX2探傷儀的3倍
單獨(dú)的衍射時(shí)差(TOFD)菜單,加快了工作流程
改進(jìn)的快速相控陣校準(zhǔn),使用戶享有更輕松的操作體驗(yàn)
800%的高波幅范圍,減少了重新掃查的需要
機(jī)載雙晶線陣和雙晶矩陣探頭的支持性能,加速了創(chuàng)建設(shè)置的過(guò)程
迅速地投入到檢測(cè)工作中
機(jī)載掃查計(jì)劃、改進(jìn)的快速校準(zhǔn)和簡(jiǎn)化的用戶界面,有助于省去一些不必要的步驟,從而可使用戶在很短的時(shí)間內(nèi)完成檢測(cè)的設(shè)置工作。
性能可靠,令人信賴
符合IP65評(píng)級(jí)標(biāo)準(zhǔn),防雨防塵
機(jī)載GPS,可提供采集數(shù)據(jù)的位置
可通過(guò)無(wú)線方式連接到奧林巴斯科學(xué)云系統(tǒng),以下載新的軟件
得益于25 GB的文件容量,儀器可以無(wú)需停歇,持續(xù)掃查
檢測(cè)團(tuán)隊(duì)中的主力成員
OmniScan X3探傷儀所提供的功能有助于用戶高效地完成檢測(cè)工作。這些功能可以在以下應(yīng)用中大顯身手:焊縫檢測(cè)、管線和管道的檢測(cè)、耐腐蝕合金的檢測(cè)、腐蝕成像、高溫氫致缺陷(HTHA)的檢測(cè)、初期裂紋的探測(cè)、復(fù)合材料的檢測(cè)和缺陷成像。
32:128PR型號(hào),提供64晶片的全聚焦方式(TFM)功能
還提供16:64PR和16:128PR型號(hào)
最多8個(gè)聲束組,1024個(gè)聚焦法則
與OmniScan MX2/SX儀器的文件相兼容,方便了用戶轉(zhuǎn)換到新儀器的操作
64 GB的內(nèi)置存儲(chǔ)容量,還可以借助外置USB驅(qū)動(dòng)盤(pán)擴(kuò)展存儲(chǔ)容量
新一代OmniScan帶給您更美好的體驗(yàn)
OmniScan X3儀器的軟件性能強(qiáng)大,其簡(jiǎn)潔、現(xiàn)代的菜單結(jié)構(gòu)減少了按鍵的次數(shù),改進(jìn)了從開(kāi)始設(shè)置到最后制作報(bào)告的整個(gè)檢測(cè)過(guò)程,因此無(wú)論新老用戶都會(huì)得心應(yīng)手地使用這款儀器。
屏幕上最多可顯示4種模式的全聚焦方式(TFM)圖像,有助于缺陷的解讀和定量
在同一個(gè)檢測(cè)中使用不同的全聚焦方式(TFM)模式(聲波組),使檢測(cè)人員更有希望探測(cè)到方向異常的缺陷指示。OmniScan X3探傷儀可以最多同時(shí)顯示4種模式的全聚焦方式(TFM)圖像,從而使用戶看到從不同角度生成的圖像。來(lái)自每種模式的響應(yīng)和特征,如:端部衍射、圓角凹陷和缺陷剖面,可被綜合在一起進(jìn)行分析,從而可以確認(rèn)缺陷的類型,并提高缺陷定量的性能。
提前確認(rèn)覆蓋區(qū)域
聲學(xué)影響圖(AIM)工具可以基于用戶的全聚焦方式(TFM)模式、探頭、設(shè)置和模擬反射體,即刻提供靈敏度的可視化模型。
迅速地投入到檢測(cè)工作中
機(jī)載掃查計(jì)劃工具有助于用戶在開(kāi)始檢測(cè)之前觀察到檢測(cè)圖像。
同時(shí)配置多個(gè)探頭和聲波組
改進(jìn)的校準(zhǔn)功能和設(shè)置驗(yàn)證工具
看似熟悉、實(shí)有提升的OmniScan操作體驗(yàn)
OmniScan X3探傷儀雖然保留了OmniScan儀器熟為人知的界面,但卻減少了設(shè)置和分析所需的步驟。因此擁有OmniScan X2的用戶可以快速方便地過(guò)渡到OmniScan X3的使用,而新的用戶則可以借助OmniScan X3輕松地學(xué)習(xí)檢測(cè)知識(shí)。
OmniPC軟件為用戶提供一套高級(jí)工具,如:并排顯示視圖的功能,這種視圖可使用戶在屏幕上比較兩個(gè)文件,從而在分析數(shù)據(jù)時(shí)更加充分地利用PC機(jī)的性能。
觀察焊縫左右兩側(cè)的圖像
在同一個(gè)屏幕上將當(dāng)前和以前捕獲的檢測(cè)數(shù)據(jù)放在一起進(jìn)行比較