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BRUKER Dektak-XTL 布魯克探針式表面輪廓儀

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱(chēng) 北京亞科晨旭科技有限公司
  • 品牌 Alicona/奧地利
  • 型號(hào) BRUKER Dektak-XTL
  • 產(chǎn)地 馬來(lái)西亞
  • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
  • 更新時(shí)間 2024/9/25 15:16:03
  • 訪問(wèn)次數(shù) 1123

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公司自成立以來(lái)就一直專(zhuān)注于半導(dǎo)體、微組裝和電子裝配等領(lǐng)域的設(shè)備集成和技術(shù)服務(wù);目前公司擁有一支在半導(dǎo)體制造、微組裝及電子裝配等領(lǐng)域經(jīng)驗(yàn)豐富的專(zhuān)業(yè)技術(shù)團(tuán)隊(duì),專(zhuān)業(yè)服務(wù)于混合電路、光電模塊、MEMS、先進(jìn)封裝(TSV、Fan-out等)、化合物半導(dǎo)體、微波器件、功率器件、紅外探測(cè)、聲波器件、集成電路、分立器件、微納等領(lǐng)域。我們不僅能為客戶(hù)提供整套性能可靠的設(shè)備,還能根據(jù)客戶(hù)的實(shí)際生產(chǎn)需求制訂可行的工藝技術(shù)方案。
目前亞科電子已與眾多微電子封裝和半導(dǎo)體制造設(shè)備企業(yè)建立了良好的合作關(guān)系(如:BRUKER、EVG、TRYMAX、CAMTEK、CENTROTHERM、SENTECH、ENGIS、ADT、SONOSCAN、ASYMTEK、MARCH、PANASONIC、HYBOND、OKI、KEKO等),為向客戶(hù)提供先進(jìn)的設(shè)備和專(zhuān)業(yè)的技術(shù)服務(wù)打下了堅(jiān)實(shí)基礎(chǔ)。

 

半導(dǎo)體設(shè)備,微組裝設(shè)備,LTCC設(shè)備,化工檢測(cè)設(shè)備

產(chǎn)地類(lèi)別 進(jìn)口 價(jià)格區(qū)間 20萬(wàn)-30萬(wàn)
應(yīng)用領(lǐng)域 化工,石油,能源,電子

探針式表面輪廓儀

布魯克探針式表面輪廓儀(又稱(chēng)臺(tái)階儀)歷今四十載,積累大量專(zhuān)有技術(shù)。從傳統(tǒng)的二維表面粗糙度和臺(tái)階高度測(cè)量,到更高級(jí)的三維表面成像和薄膜應(yīng)力測(cè)試,Dektak臺(tái)階儀適用面極廣,為用戶(hù)提供準(zhǔn)確性高,重復(fù)性佳的測(cè)量結(jié)果。

 

在教育、科研領(lǐng)域和半導(dǎo)體制程控制,Dektak廣泛用于膜厚、應(yīng)力、表面粗糙度和面形的測(cè)量。近幾年,Dektak系統(tǒng)已經(jīng)成為發(fā)展的太陽(yáng)能電池市場(chǎng)越的測(cè)試工具,也被許多主要的光伏太陽(yáng)能電池制造商所認(rèn)可。

 

Dektak XTL

 

嚴(yán)格的質(zhì)量保證與控制下獲得300mm性能檢測(cè)

布魯克公司的新型Dektak XTL探針式輪廓儀系統(tǒng)可容納多大350mm*350mm的樣品,將Dektak有意的可重復(fù)性和再現(xiàn)性應(yīng)用于大尺寸晶片及面板制造業(yè)。Dektak XTL集成氣體隔振裝置和方便的交互鎖裝置使儀器在全封閉工作環(huán)境下運(yùn)行,是當(dāng)今要求苛刻的生產(chǎn)環(huán)境的理想之選。它的雙攝像頭設(shè)置使空間感增強(qiáng),其高水平自動(dòng)化可大限度提高生產(chǎn)量。

 

Bruker布魯克Dektak XTL 測(cè)針輪廓儀系統(tǒng)

大尺寸晶片和面板測(cè)量

 

 

 

全新的Dektak XTL™探針式輪廓儀優(yōu)異的度、可重復(fù)性和再現(xiàn)性廣泛應(yīng)用于大尺寸晶片及面板制造業(yè)。該系統(tǒng)可容納多達(dá)350mm x 350mm的樣品,使得傳奇性的Dektak系統(tǒng)可以實(shí)現(xiàn)從200mm到300mm的晶片制造。

DektakXTL運(yùn)算符v1

 

Dektak XTL具有占地面積小和帶聯(lián)鎖門(mén)的集成隔離功能,非常適合當(dāng)今苛刻的生產(chǎn)車(chē)間環(huán)境。其雙攝像頭架構(gòu)可增強(qiáng)空間意識(shí),其高度自動(dòng)化可提高制造吞吐量。布魯克的Vision64高級(jí)生產(chǎn)界面帶有可選的模式識(shí)別功能,使數(shù)據(jù)收集變得直觀,可重復(fù),并地減少了操作員之間的差異。

 

新的軟件功能使Dektak XTL成為功能大,易于使用的手寫(xiě)筆探查器。該系統(tǒng)使用與布魯克光學(xué)輪廓儀系列*兼容的Vision64軟件。 Vision64軟件可使用數(shù)百種內(nèi)置分析工具來(lái)實(shí)現(xiàn)無(wú)限制的測(cè)量站點(diǎn),3D映射和高度定制的表征。

  

DektakXTL Vision64屏幕截圖

Dektak XTL已經(jīng)針對(duì)持續(xù)生產(chǎn)工作時(shí)間和大生產(chǎn)量在工藝開(kāi)發(fā)和質(zhì)量保證與質(zhì)量控制應(yīng)用方面進(jìn)行了全面優(yōu)化,將本產(chǎn)品設(shè)計(jì)為業(yè)界易使用的探針式輪廓儀。

 

 

技術(shù)細(xì)節(jié):

的性能和優(yōu)于5埃(

· 單拱龍門(mén)式設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)了突破性的掃描穩(wěn)定性

· 先進(jìn)的智能化電子器件實(shí)現(xiàn)了低噪聲的新*

 

 



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