Bruker  臺(tái)階儀  Dektak XT概述

Bruker  臺(tái)階儀  Dektak XT也叫布魯克DektakXT （探針式表面輪廓儀）設(shè)計(jì)創(chuàng)新，實(shí)現(xiàn)了更高的重復(fù)性和分辨率，垂直高度重復(fù)性<5?。這一里程碑式的產(chǎn)品源自于Dektak系列占據(jù)業(yè)界ling xian地位長達(dá)四十年的優(yōu)異表面測量技術(shù)。實(shí)現(xiàn)了納米尺度的表面輪廓測量，在微電子、半導(dǎo)體、太陽能、高亮度LED、觸摸屏、醫(yī)療、科學(xué)研究和材料科學(xué)領(lǐng)域大顯身手。

臺(tái)階高度重復(fù)性優(yōu)于5埃（<5 ?）

· 單拱龍門式設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)了突破性的掃描穩(wěn)定性

· 先進(jìn)的”智能化電子器件”實(shí)現(xiàn)了低噪聲的新*

操作簡便，高效易用

· 直觀化的Vision64TM軟件簡化了用戶界面的操作過程

· *的傳感器設(shè)計(jì)使得在單一平臺(tái)上即可實(shí)現(xiàn)超微力和較大的力測量

· 自對(duì)準(zhǔn)的探針設(shè)計(jì)使用戶可以輕而易舉地更換探針

探針式輪廓儀的ling 導(dǎo) zhe

· 性能zhuo yue，物超所值

· 完備的零配件為您優(yōu)化或延伸機(jī)臺(tái)的多種應(yīng)用提供保障