FR-Mic-薄膜厚度、n、k測量儀器——集成顯微鏡    

廠家正式*代理商：岱美有限公司

FR-Mic: 微米級薄膜表征-厚度，反射率，折射率及消光系數(shù)測量儀

一、產(chǎn)品簡介：

     FR-Mic-薄膜厚度、n、k測量儀器——集成顯微鏡 是一款快速、準(zhǔn)確測量薄膜表征應(yīng)用的模塊化解決方案，要求的光斑尺寸小到幾個微米，如微圖案表面，粗糙表面及許多其他表面。它可以配備一臺計算機控制的 XY 工作臺，使其快速、方便和準(zhǔn)確地描繪樣品的厚度和光學(xué)特性圖。o 實時光譜測量o 薄膜厚度，光學(xué)特性，非均勻性測量，厚度映射o 使用集成的， USB 連接高品質(zhì)彩色攝像機（CCD）進(jìn)行成像 
  FR-Mic-薄膜厚度、n、k測量儀器——集成顯微鏡

 

二、  FR-Mic-薄膜厚度、n、k測量儀器——集成顯微鏡應(yīng)用領(lǐng)域

o   大學(xué) & 科研院所

o   半導(dǎo)體（氧化物、氮化物、硅、電阻等）

o   MEMS 元器件 (光刻膠、硅薄膜等)

o   LED

o   數(shù)據(jù)存儲元件

o   彎曲基材（襯底）上的硬/軟涂層

o   聚合物涂層、粘合劑等

o   生物醫(yī)學(xué)（ parylene—— 派瑞林,氣泡壁厚,等等 )

o   其他更多 …

(如有需求，請與我們?nèi)〉寐?lián)系)

三、  FR-Mic-薄膜厚度、n、k測量儀器——集成顯微鏡產(chǎn)品特點
o 單點分析(無需預(yù)設(shè)值）
o 動態(tài)快速測量
o 包括光學(xué)參數(shù)(n和k，顏色)
o 為演示保存視頻
o 600 多種的預(yù)存材料
o 離線分析
o 免費軟件更新 

四、技術(shù)參數(shù)

五、工作原理

白光反射光譜（WLRS）測量方法是在一定波長范圍內(nèi)，分析垂直于樣品表面的入射光和從單層或多層堆疊薄膜反射的反射光譜的分析方法。

由界面&表面產(chǎn)生的反射光譜被用于確定獨立和附著于基底（在透明或部分/全反射基底上）的堆疊膜層的厚度、光學(xué)常數(shù)（n&k）等。

岱美有限公司成立于1989年，是數(shù)據(jù)存儲，半導(dǎo)體，光學(xué)，光伏和航空航天行業(yè)制造商和創(chuàng)新研發(fā)機構(gòu)的設(shè)備分銷商。