廠家正式*代理商：岱美有限公司

      岱美有限公司與Filmetrics從03年開始的合作關(guān)系，單是國(guó)內(nèi)16年間已賣出超過(guò)600臺(tái)不同型號(hào)儀器，在國(guó)內(nèi)有多個(gè)服務(wù)處均有工程師，保證能為客戶提供及時(shí)的服務(wù)。

免費(fèi)樣機(jī)演示及測(cè)量

輕輕一按即可實(shí)現(xiàn)測(cè)量！

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Filmetrics硅片涂層厚度測(cè)量?jī)x-晶圓厚度測(cè)量功能強(qiáng)大，測(cè)量厚度從1nm到10mm

 薄膜特性表征工具/光學(xué)參數(shù)測(cè)量/反射率測(cè)量/厚度測(cè)量/透射率測(cè)量，應(yīng)用于半導(dǎo)體材料厚度測(cè)量、非金屬材料厚度測(cè)量、光刻膠、光學(xué)掩膜、介電薄膜、晶圓表面涂層厚度測(cè)量、圓晶薄膜厚度測(cè)量、硅片表面涂層材料厚度測(cè)量，研究透光性材料的工具。

     硅片涂層厚度測(cè)量?jī)x-晶圓厚度測(cè)量?jī)x F20都能測(cè)量薄膜厚度、光學(xué)常數(shù)，還是想要知道材料的反射率和透過(guò)率。僅需花費(fèi)幾分鐘完成安裝，通過(guò)USB連接電腦，設(shè)備就可以在數(shù)秒內(nèi)得到測(cè)量結(jié)果?；谀衬K化設(shè)計(jì)的特點(diǎn)，硅片涂層厚度測(cè)量?jī)x-晶圓厚度—Filmetrics  F20適用于各種應(yīng)用：

  測(cè)量厚度、折射率、反射率和穿透率：

-     單層膜或多層膜疊加

-     單一膜層

-     液態(tài)膜或空氣層

  不同條件下的測(cè)量，包括：

-     在平面或彎曲表面

-     光斑**可達(dá)20微米

-     桌面式、XY坐標(biāo)自動(dòng)化膜厚測(cè)量，或在線配置

以硅片涂層厚度測(cè)量?jī)x-晶圓厚度膜厚儀—Filmetrics  F20為例

型號(hào)參數(shù)

Filmetrics公司：

    硅片涂層厚度測(cè)量?jī)x-晶圓厚度—Filmetrics利用反射干涉的原理進(jìn)行無(wú)損測(cè)量，可測(cè)量薄膜厚度及光學(xué)常數(shù)。測(cè)量精度達(dá)到埃級(jí)的分辯率，測(cè)量迅速，操作簡(jiǎn)單，界面友好，是目前市場(chǎng)上**性價(jià)比的薄膜厚度測(cè)量設(shè)備。設(shè)備光譜測(cè)量范圍從近紅外到紫外線，波長(zhǎng)范圍從200nm到1700nm可選。凡是光滑的，透明或半透明的和所有半導(dǎo)體膜層都可以測(cè)量。其可測(cè)量薄膜厚度在 1nm 到 13mm 之間，測(cè)量精度高達(dá)1 埃，測(cè)量穩(wěn)定性高達(dá) 0.7 埃，測(cè)量時(shí)間只需一到二秒, 并有手動(dòng)及自動(dòng)機(jī)型可選?？蓱?yīng)用領(lǐng)域包括：生物醫(yī)學(xué)（Biomedical）, 液晶顯示(Displays), 硬涂層(Hard coats), 晶圓涂層、金屬膜(Metal), 眼鏡涂層(Ophthalmic) , 聚對(duì)二甲笨(Parylene), 電路板(PCBs&PWBs), 多孔硅(Porous Silicon), 光阻材料(Thick Resist),半導(dǎo)體材料(Semiconductors)涂層測(cè)厚 , 太陽(yáng)光伏(Solar photovoltaics),涂層測(cè)厚、 真空鍍層(Vacuum Coatings), 圈筒檢查(Web inspection applications)等。

應(yīng)用：

通過(guò)Filmetrics膜厚測(cè)量?jī)x新反射式光譜測(cè)量技術(shù),多達(dá)3-4層透明薄膜厚度、 n、k值及粗糙度能在數(shù)秒鐘測(cè)得。其應(yīng)用廣泛，例如：

膜層實(shí)例：

幾乎任何光滑、半透明、低吸收的膜都能測(cè)。包括：

SiO2（二氧化硅）           SiNx（氮化硅）                    DLC（類金剛石碳）

Photoresist（光刻膠）     Polyer Layers（高分子聚合物層）      Polymide（聚酰亞胺）

Polysilicon（多晶硅）      Amorphous Silicon（非晶硅）

基底實(shí)例：

對(duì)于厚度測(cè)量，大多數(shù)情況下所要求的只是一塊光滑、反射的基底。對(duì)于光學(xué)常數(shù)測(cè)量，需要一塊平整的鏡面反射基底；如果基底是透明的，基底背面需要進(jìn)行處理使之不能反射。

包括：

Silicon（硅）         Glass（玻璃）               Aluminum（鋁）

Gas（砷化鎵）        Steel（鋼）                 Polycarbonate（聚碳酸脂）

Polymer Films（高分子聚合物膜）

產(chǎn)品應(yīng)用，在可測(cè)樣品基底上有了飛躍：

●幾乎所有材料表面上的鍍膜都可以測(cè)量，即使是藥片，木材或紙張等粗糙的非透明基底。

●玻璃或塑料的板材、管道和容器。

●光學(xué)鏡頭和眼科鏡片。

優(yōu)勢(shì)：

*     提供在線診斷

*     配送獨(dú)立的軟件包

*     精通的歷史功能即程序數(shù)據(jù)可存儲(chǔ)、**及策劃結(jié)果

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產(chǎn)品工作原理：

極易操作、快速、準(zhǔn)確、機(jī)身輕巧及價(jià)格便宜為其主要優(yōu)點(diǎn)，F(xiàn)ilmetrics提供以下型號(hào)以供選擇:

一、單點(diǎn)測(cè)量系統(tǒng)（從 1nm 到 13mm 單層及多層厚度測(cè)量）

F20

*銷量好的薄膜測(cè)量系統(tǒng)，有各種不同附件和波長(zhǎng)(由220nm紫外線區(qū) 至1700nm近紅外線區(qū))覆蓋范圍，為任意攜帶型，可以實(shí)現(xiàn)反射率、膜厚、n、k值測(cè)量。

F3-sX

在沉積過(guò)程中可實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)半導(dǎo)體與介電層薄膜厚度到3毫米, 例如硅片

F10-ARc

可測(cè)量鏡片和其他曲面的反射率，用于涂層厚度測(cè)量

F10-HC

測(cè)量硬涂層和防霧層厚度和折射率，聚碳酸酯硬涂層在汽車等行業(yè)應(yīng)用普通

F3-CS

提供微小視野及微小樣品測(cè)量，USB連接電腦即可使用，攜帶方便

F10-AR

測(cè)量眼科鏡頭和其他彎曲表面的反射率。還可以提供測(cè)量硬涂層厚度和透射率的可選件

F10-RT

可同時(shí)測(cè)量反射率和透射率，也可選配測(cè)量膜層厚度和折射率。普遍應(yīng)用于真空涂層領(lǐng)域

在膜厚儀—FilmetricsF20實(shí)現(xiàn)反射率跟穿透率的同時(shí)測(cè)量，特殊光源設(shè)計(jì)特別適用于透明基底樣品的測(cè)量。

二、F40 系列- 基于微米(顯微)級(jí)別光斑尺寸厚度測(cè)量

膜厚儀—FilmetricsF40

可以固定到您的顯微鏡上來(lái)測(cè)量小至 1um 光斑點(diǎn)的厚度和折射率

這型號(hào)安裝在任何顯微鏡外，可提供小到1um光點(diǎn)(100倍放大倍數(shù))來(lái)測(cè)量微小樣品。

三、F50/F60系列- 表面的自動(dòng)測(cè)繪

F50

為我們的膜厚儀—FilmetricsF20系列產(chǎn)品增添自動(dòng)測(cè)繪能力，以每秒鐘 2 個(gè)點(diǎn)的快速測(cè)繪厚度和折射率

這型號(hào)配備全自動(dòng)XY工作臺(tái)，由8"x8"到18"x18"或客戶提供所需尺寸均可。通過(guò)快速掃瞄功能，可取得整片樣品厚度分布情況(mapping)。

F54

能以每秒測(cè)量?jī)蓚€(gè)點(diǎn)的速度快速的測(cè)繪薄膜厚度，樣品直徑可達(dá)450毫米

F60-t

滿足生產(chǎn)環(huán)境的臺(tái)式測(cè)繪系統(tǒng)，包括自動(dòng)基準(zhǔn)確定、凹槽定位、全封閉測(cè)量平臺(tái)以及其它裝置

四、F30 系列- 在線厚度監(jiān)控儀器

F30

檢測(cè)金屬有機(jī)化學(xué)氣相沉積(MOCVD)、陰極濺鍍和其他沉積工藝中監(jiān)控反射率、厚度和沉積率

這型號(hào)可安裝在任何真空鍍膜機(jī)腔體外的窗口?？蓪?shí)時(shí)監(jiān)控長(zhǎng)晶速度、實(shí)時(shí)提供膜厚、n、k值。并可切定某一波長(zhǎng)或固定測(cè)量時(shí)間間距。更可加裝至三個(gè)探頭，同時(shí)測(cè)量三個(gè)樣品，具紫外線區(qū)或標(biāo)準(zhǔn)波長(zhǎng)可供選擇。

F32

實(shí)時(shí)監(jiān)控薄膜頂部和底部的反射率和沉積速率