化工儀器網(wǎng)>產(chǎn)品展廳>分析儀器>X射線儀器>X射線探測(cè)裝置>Dexela1207/1512/2307/2315 Dexela2923數(shù)字射線平板探測(cè)器
Dexela1207/1512/2307/2315 Dexela2923數(shù)字射線平板探測(cè)器
| 參考價(jià) | ￥ 100000 |
| 訂貨量 | ≥1 件 |
- 公司名稱 增宜檢測(cè)技術(shù)（上海）有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號(hào) Dexela1207/1512/2307/2315
- 產(chǎn)地 美國
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時(shí)間 2023/6/29 12:52:39
- 訪問次數(shù) 3735
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增宜檢測(cè)技術(shù)（上海）有限公司是一家專注于無損檢測(cè)設(shè)備，理化分析計(jì)量儀器，實(shí)驗(yàn)室科研器材銷售及服務(wù)的一站式集成供應(yīng)商。公司代理許多上享譽(yù)*的先進(jìn)產(chǎn)品。
我們提供的工業(yè)產(chǎn)品包括超聲波檢測(cè)儀、渦流儀、激光間隙測(cè)量儀、X射線機(jī)、平板探測(cè)器、磁粉探傷機(jī)、著色滲透劑、聲發(fā)射檢測(cè)儀器、泄漏儀、內(nèi)窺鏡、顯微鏡、硬度計(jì)、合金光譜儀、金相分析儀、紅外熱像儀及其它實(shí)驗(yàn)室試驗(yàn)檢測(cè)設(shè)備。
我們的產(chǎn)品廣泛應(yīng)用于造船、汽車、鐵路、航空、石化、冶金、風(fēng)電、核工業(yè)、軍工、特檢和高?？蒲械榷鄠€(gè)行業(yè)領(lǐng)域，并贏得了廣大用戶的良好口碑。
公司秉承“至信卓業(yè)，客戶至上”的經(jīng)營宗旨，崇尚“專業(yè)，高效，共贏”的服務(wù)理念，為廣大客戶提供優(yōu)質(zhì)的產(chǎn)品，優(yōu)質(zhì)的服務(wù)。我們期待成為您長期且可信賴的合作伙伴。
主要代理如下公司產(chǎn)品：
奧林巴斯測(cè)厚儀/探傷儀/顯微鏡/內(nèi)窺鏡/光譜儀
Third Dimension英國三維激光間隙測(cè)量儀
ZETEC探傷儀
GE美國通用電氣測(cè)厚儀/探傷儀/顯微鏡/內(nèi)窺鏡/射線機(jī)
萬睿視平板探測(cè)器/管頭
Eddyfi & M2M探傷儀
美國磁通磁粉滲透
Eddyfi & M2M探傷儀
奧林巴斯超聲波相控陣OMNISCAN MX2，英國三維Third Dimension GapGun Pro激光間隙測(cè)量儀，美國萬睿視Varex射線數(shù)字平板探測(cè)器，奧林巴斯超聲波探傷儀，奧林巴斯渦流探傷儀，內(nèi)窺鏡，元素分析儀，美國磁粉滲透
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,能源,冶金,航天,汽車 |
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Dexela2923數(shù)字射線平板探測(cè)器
為了獲得用于非破壞性測(cè)試成像的高分辨率的圖像質(zhì)量，請(qǐng)升級(jí)到1207N Varex Imaging CMOS（互補(bǔ)金屬氧化物半導(dǎo)體）X射線平板探測(cè)器。
1207N CMOS平板探測(cè)器是具有出色靈敏度的高速，低噪聲X射線探測(cè)器。 該探測(cè)器采用的大面積CMOS圖像傳感器技術(shù)，并提供了一系列閃爍器和接口選項(xiàng)。
CMOS平板檢測(cè)器具有可切換的像素增益，這使其非常適合實(shí)時(shí)和計(jì)算機(jī)斷層掃描（CT）成像以及具有高動(dòng)態(tài)范圍的靜態(tài)成像。
1207N平板探測(cè)器的功能和優(yōu)點(diǎn)包括：
- 74.8μm像素間距
- 1536 x 864像素
- 高靈敏度和高動(dòng)態(tài)范圍模式
- 高工作電壓160 kV
- 適用于高達(dá)191 fps的實(shí)時(shí)成像
- 1 x 1、2 x 2和4 x 4像素合并選項(xiàng)
- 高DQE
- 各種閃爍器選項(xiàng)
- X射線發(fā)生器同步的輸入/輸出
- Camera Link或GigE Vision數(shù)據(jù)連接
1512N
為了獲得用于非破壞性測(cè)試成像的高分辨率的圖像質(zhì)量，請(qǐng)升級(jí)到1512N Varex Imaging CMOS（互補(bǔ)金屬氧化物半導(dǎo)體）平板探測(cè)器。
1512N CMOS平板探測(cè)器是具有出色靈敏度的高速，低噪聲X射線探測(cè)器。 該探測(cè)器采用的大面積CMOS圖像傳感器技術(shù)，并提供了一系列閃爍器和接口選項(xiàng)。
CMOS平板檢測(cè)器具有可切換的像素增益，這使其非常適合實(shí)時(shí)和計(jì)算機(jī)斷層掃描（CT）成像以及具有高動(dòng)態(tài)范圍的靜態(tài)成像。
1512N平板探測(cè)器的功能和優(yōu)點(diǎn)包括：
- 74.8μm像素間距
- 1944 x 1536像素
- 高靈敏度和高動(dòng)態(tài)范圍模式
- 高225 kV的操作
- 適用于高達(dá)86 fps的實(shí)時(shí)成像
- 1 x 1、2 x 2和4 x 4像素合并選項(xiàng)
- 高DQE
- 各種閃爍器選項(xiàng)
- X射線發(fā)生器同步的輸入/輸出
- Camera Link或GigE Vision數(shù)據(jù)連接
2315N
CMOS平板檢測(cè)器具有可切換的像素增益，這使其非常適合實(shí)時(shí)和計(jì)算機(jī)斷層掃描（CT）成像以及具有高動(dòng)態(tài)范圍的靜態(tài)成像。
2315N平板探測(cè)器的功能和優(yōu)點(diǎn)包括：
- 74.8μm像素間距
- 3072 x 1944像素
- 高靈敏度和高動(dòng)態(tài)范圍模式
- 高工作電壓160 kV
- 適用于高達(dá)191 fps的實(shí)時(shí)成像
- 1 x 1、2 x 2和4 x 4像素合并選項(xiàng)
- 高DQE
- 各種閃爍器選項(xiàng)
- X射線發(fā)生器同步的輸入/輸出
- Camera Link或GigE Vision數(shù)據(jù)連接
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