EM01-RD 多入射角激光橢偏儀
具體成交價以合同協議為準
- 公司名稱 北京量拓科技有限公司-C
- 品牌
- 型號
- 產地
- 廠商性質 經銷商
- 更新時間 2019/5/17 11:22:47
- 訪問次數 356
產品標簽
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| 產地類別 | 國產 | 價格區(qū)間 | 面議 |
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納米薄膜研發(fā)領域的多入射角激光橢偏儀，用于納米薄膜的厚度、折射率n、消光系數k等參數的測量。適用于光面或絨面納米薄膜測量、塊狀固體參數測量、快速變化的納米薄膜實時測量等不同的應用場合。采用量拓科技多項技術，儀器操作具有個性化定制功能，方便使用。
應用領域：
- EM01-RD 多入射角激光橢偏儀可對納米薄膜層構樣品的薄膜厚度、折射率n及消光系數k進行快速、高精度、高準確度的測量，尤其適合于科研和工業(yè)產品環(huán)境中的新品研發(fā)
- EM01-RD 多入射角激光橢偏儀可用于表征單層納米薄膜、多層納米層構膜系，以及塊狀材料（基底）。
- 應用領域涉及納米薄膜的幾乎所有領域，如微電子、半導體、集成電路、顯示技術、太陽電池、光學薄膜、生命科學、電化學、磁介質存儲、聚合物及金屬表面處理等。
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