上海致東全光譜反射率膜厚量測(cè)儀是一套全波長(zhǎng)顯微球面光學(xué)元件光譜分析儀，能快速準(zhǔn)確地測(cè)量各類球面/非球面器件的相對(duì)/反射率。適用于凸透鏡、凹透鏡、鏡片等的鍍膜反射率測(cè)量。還可進(jìn)行有干涉條紋的單層膜厚或折射率測(cè)量。

上海致東全光譜反射率膜厚量測(cè)儀：致東光電奉行“以人為本”的理念，延攬經(jīng)驗(yàn)豐富、資質(zhì)優(yōu)良、充滿活力的人才，與客戶的需求緊密結(jié)合，為其提供而可靠的加值型服務(wù)。“客戶的滿意是我們的目標(biāo)”，致東光電遵循“高機(jī)動(dòng)性、高效率、高行動(dòng)力”的三大方針，目前我們的客戶已經(jīng)遍及整個(gè)IC、TFT-LCD、LED及Solar cell等學(xué)術(shù)及工業(yè)相關(guān)領(lǐng)域，并廣泛得到客戶的認(rèn)同和喜愛。

我司主營(yíng)橢偏儀/橢圓偏振儀、反射儀、D8反射儀、膜厚量測(cè)儀、太陽(yáng)能絨面反射儀,紅外光譜儀,其它自動(dòng)化儀器設(shè)備,光時(shí)域反射儀OTDR,近紅外光譜儀,太陽(yáng)光模擬器/太陽(yáng)能模擬器,便攜式光譜儀,四探針測(cè)試儀/四探針系統(tǒng)等