TI 980 布魯克TI980納米壓痕儀/硬度/彈性模量系統(tǒng)
- 公司名稱 廣州貝拓科學(xué)技術(shù)有限公司
- 品牌 Bruker/布魯克
- 型號(hào) TI 980
- 產(chǎn)地 美國(guó)
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2024/7/18 14:24:16
- 訪問(wèn)次數(shù) 4073
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廣州貝拓科學(xué)技術(shù)有限公司成立于2010年8月，是國(guó)家高業(yè)，廣州科技小巨人企業(yè)，并在廣東股權(quán)交易中心成功掛牌（股權(quán)代碼：892081），通過(guò)ISO9001-2015質(zhì)量體系認(rèn)證和知識(shí)產(chǎn)權(quán)貫標(biāo)認(rèn)定體系，擁有近20項(xiàng)國(guó)家磚利。貝拓科學(xué)一直從事光譜分析儀器領(lǐng)域，自主研發(fā)儀器有光學(xué)接觸角測(cè)量?jī)x，顯微拉曼光譜儀，表界面張力儀，白光干涉膜厚分析儀，陣列式紫外可見(jiàn)分光光度計(jì)，積分球式透反射率測(cè)試儀等。具備光學(xué)設(shè)計(jì)、機(jī)械設(shè)計(jì)、軟件編寫和算法編寫核心能力，和中山大學(xué)、廣州大學(xué)、華南師范大學(xué)有緊密的合作關(guān)系，并且是廣州大學(xué)物理與光電學(xué)院的長(zhǎng)期實(shí)習(xí)基地。貝拓科學(xué)所研發(fā)生產(chǎn)的產(chǎn)品定位在國(guó)內(nèi)高水平，未來(lái)面向市場(chǎng)。
貝拓科學(xué)陪伴著科學(xué)家一起探索未知事件，“Touch the future”作為我們的口號(hào)，貝拓科學(xué)尊重以嚴(yán)謹(jǐn)?shù)目茖W(xué)理論為指導(dǎo)，為科學(xué)家提供有力的科研工具。我們默默堅(jiān)持做前沿分析儀器的搬運(yùn)工，陪伴科學(xué)家不斷成長(zhǎng)。我們很榮幸作為一些有儀器生產(chǎn)廠家，例如：日本Hitachi，德國(guó)WITec,德國(guó)Bruker，英國(guó)OXFORD，美國(guó)ThermoFisher,Ametek旗下輸力強(qiáng)和普林斯頓,以及中國(guó)臺(tái)灣OtO等大電子儀器廠家的代理，一起為中國(guó)的科學(xué)家提供專業(yè)的服務(wù)。
我們的宗旨是為科學(xué)學(xué)提供更專業(yè)，更貼心的服務(wù)。
我們的優(yōu)勢(shì)和專注點(diǎn)集中于材料測(cè)試方面，為了普惠科研工作者，我們還提供測(cè)試服務(wù)，其中包括材料的結(jié)構(gòu)、元素分布、表面特征、物理化學(xué)特性以及光學(xué)、電學(xué)特性的分析。
材料分析領(lǐng)域代理品牌：
OXFORD（牛津）、FEI（賽默飛）、KeySight(前安捷倫納米部)、STOE、AMETEK(阿美特克)、TESCAN(泰思肯)、LEICA、KRUSS、BEL、HITACHI（日立）、OTO（中國(guó)臺(tái)灣超微光學(xué)）、WITec（威泰克）、BRUKER（布魯克）、普析、徠卡、本原納米等。
接觸角測(cè)量?jī)x、在線測(cè)厚儀、光學(xué)膜厚儀、紅外光譜儀、拉曼成像光譜儀、拉曼電鏡、低溫恒溫器、掃描探針顯微鏡/原子力、納米壓痕劃痕儀、橢偏儀、熱分析、差示掃描熱儀
| 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
|---|
布魯克TI980納米壓痕儀/硬度/彈性模量系統(tǒng)
*進(jìn)的Performech® II控制模塊和電子設(shè)計(jì)
高性能的高速閉環(huán)控制業(yè)界前者的噪音控制
集成的帶輸入/輸出信號(hào)的多參數(shù)控制五百倍于前代產(chǎn)品的力學(xué)測(cè)試速度
多維度測(cè)量耦合
充分優(yōu)化各個(gè)傳感器的特質(zhì)適用不同測(cè)量需要，通過(guò)多維傳感器的選擇實(shí)現(xiàn)
不同測(cè)量間的無(wú)縫耦合多種有效的測(cè)試模塊配置，包括納米/微米壓痕、納米劃痕、納米摩擦磨損、高分辨原位掃描探針顯微鏡成像、動(dòng)態(tài)納米壓痕和高速力學(xué)性能成像等。
豐富的系統(tǒng)控制和數(shù)據(jù)分析軟件
TriboScan(TM) 10提供了創(chuàng)新性的控制功能，包括XPM超快納米壓痕，SPM+原位掃描探針顯微鏡成像，動(dòng)態(tài)表面搜索，全自動(dòng)系統(tǒng)校準(zhǔn)和創(chuàng)新的測(cè)試程序。
Tribo iQ (TM)提供了強(qiáng)大的數(shù)據(jù)處理、分析和畫圖功能，并具有可編程數(shù)據(jù)分析模塊和自動(dòng)生成的定制測(cè)試報(bào)告功能。
極大的靈活性和具有前瞻性的表征潛質(zhì)
布魯克納米壓痕儀Ti 980提供了多級(jí)別的防護(hù)罩提供了*環(huán)境隔絕能力，并具有用于將來(lái)的升級(jí)可擴(kuò)展接口萬(wàn)能樣品臺(tái)提供了機(jī)械、磁性和真空固定方式，適用于各種樣品。
始終處于材料研究和開(kāi)發(fā)的前沿
海思創(chuàng)從1992年起就在范圍內(nèi)處于納米力學(xué)和納米摩擦學(xué)表征的前進(jìn)位置。通過(guò)與研究人員和工程師的持續(xù)合作，布魯克理解您的*需求，通過(guò)創(chuàng)新的技術(shù)幫助您解決當(dāng)下和將來(lái)面臨的材料挑戰(zhàn)。海思創(chuàng)TI 980 TriboIndenter是這些努力的集大成者。它提供了的性能，能滿足您持續(xù)更新的材料表征需求。
簡(jiǎn)潔、高速的自動(dòng)控制——系統(tǒng)自動(dòng)校正使得每次測(cè)試都無(wú)懈可擊
針尖面積函數(shù)自動(dòng)校正
傳感器自動(dòng)校正
壓針和光學(xué)系統(tǒng)校正
自動(dòng)測(cè)試程序
快速、多樣品自動(dòng)測(cè)試功能實(shí)現(xiàn)高通量表征
智能化自動(dòng)程序確保用戶選擇合適的針尖
高分辨多尺度成像結(jié)合全尺寸樣品的光學(xué)搜索，極大簡(jiǎn)化測(cè)試流程
低的噪音水平，實(shí)現(xiàn)真正納米尺度表征
從微米到幾個(gè)納米的多尺度測(cè)量納牛級(jí)別的力噪音水平和小于90%原子直徑的位移測(cè)量能力，實(shí)現(xiàn)幾乎任何材料的定量表征
系統(tǒng)可實(shí)現(xiàn)超過(guò)6個(gè)數(shù)量級(jí)的力測(cè)量和10個(gè)數(shù)量級(jí)的位移測(cè)量
力和位移噪音水平保證在客戶現(xiàn)場(chǎng)安裝時(shí)實(shí)現(xiàn)
快的反饋控制速率
布魯克納米壓痕儀Ti 980精確控制測(cè)試過(guò)程實(shí)現(xiàn)大精度、可信度和重復(fù)性的真正定量納米力學(xué)和納米摩擦學(xué)表征特殊的力和位移反饋控制方法用于海思創(chuàng)的傳感器-專門針對(duì)海思創(chuàng)傳感器物理特性開(kāi)發(fā)的力與位移反饋控制算法每隔0.013毫秒實(shí)現(xiàn)一次完整反饋控制，使得系統(tǒng)能測(cè)量快速瞬態(tài)過(guò)程，并對(duì)其作出反饋，真正實(shí)現(xiàn)用戶的測(cè)試意圖-每隔0.013毫秒實(shí)現(xiàn)一次完整的感知-分析-控制的循環(huán)，使得系統(tǒng)能對(duì)瞬態(tài)過(guò)程進(jìn)行測(cè)量與反饋，以此重現(xiàn)用戶定義的測(cè)試方式
布魯克TI980納米壓痕儀/硬度/彈性模量系統(tǒng)
強(qiáng)大的測(cè)試模塊配置，大化您的表征潛能
自下而上的*進(jìn)設(shè)計(jì)提供了世界zui xian jin的納米力學(xué)測(cè)試系統(tǒng)
實(shí)現(xiàn)豐富的潛在測(cè)試能力
Performech® II高級(jí)控制模塊
精確控制納米力學(xué)測(cè)試過(guò)程
業(yè)界前進(jìn)的力和位移噪音水平實(shí)現(xiàn)高的測(cè)量精度和重復(fù)性超快反饋控制算法提供整個(gè)測(cè)試過(guò)程的精確控制專為各種不同測(cè)試而開(kāi)發(fā)的一整套高性能傳感器
多達(dá)24個(gè)通道的數(shù)據(jù)采集能力，每個(gè)通道都能同時(shí)達(dá)到1.2MHz采樣率
多個(gè)測(cè)試頭的耦合——一整套傳感器適用于各種測(cè)試任務(wù)
任意兩個(gè)測(cè)頭之間無(wú)縫連接
標(biāo)配二維傳感器和nanoDMA III傳感器實(shí)現(xiàn)系統(tǒng)的多種測(cè)試功能和高性能
多種有效的測(cè)試模塊配置
納米壓痕：硬度，模量，蠕變，應(yīng)力弛豫，斷裂韌性、高速力學(xué)性能成像
納米摩擦：薄膜結(jié)合力，摩擦系數(shù)，抗劃擦性能，磨損
掃描探針顯微鏡成像：形貌和梯度成像，納米級(jí)別定位精度，摩擦
力成像動(dòng)態(tài)納米壓痕：隨著深度連續(xù)測(cè)量硬度和模量，存儲(chǔ)模量，損失模量，損耗角正切
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