KP Technology掃描開爾文探針-材料表征
- 公司名稱 科睿設(shè)備有限公司
- 品牌 DIATEST/德國
- 型號(hào)
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時(shí)間 2024/8/28 7:28:48
- 訪問次數(shù) 3613
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光刻機(jī),鍍膜機(jī),磁控濺射鍍膜儀,電子束蒸發(fā)鍍膜儀,開爾文探針系統(tǒng)(功函數(shù)測量),氣溶膠設(shè)備,氣溶膠粒徑譜儀,等離子增強(qiáng)氣相沉積系統(tǒng)(PECVD),原子層沉積系統(tǒng)(ALD),快速退火爐,氣溶膠發(fā)生器,稀釋器,濾料測試系統(tǒng)
產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 能源,電子 |
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KP Technology掃描開爾文探針-材料表征
掃描開爾文探針是一種非接觸、非破壞性振動(dòng)電容裝置,用于測試導(dǎo)電材料的功函或半導(dǎo)體材料表面的表面電勢,表面功函。由材料表面最頂部的1-3層原子或分子決定,因而開爾文探針是一種非常靈敏的表面分析技術(shù)。KP Technology公司目前可提供具有1-3 meV業(yè)界最高分辨率的測試系統(tǒng)。
KP Technology掃描開爾文探針-材料表征
主要特點(diǎn):
● 功函分辨率< 3meV
● 掃描面積:5mm to 300mm(四種型號(hào),每種型號(hào)掃描面積不同)
● 掃描分辨率:317.5nm
● 自動(dòng)高度調(diào)節(jié)
應(yīng)用領(lǐng)域:
● 有機(jī)和非有機(jī)半導(dǎo)體
● 金屬
● 薄膜
● 太陽能電池和有機(jī)光伏材料
● 腐蝕
升級(jí)附件:
● 大氣光子發(fā)射系統(tǒng)
● 表面光電壓(QTH or LED)
● SPS表面光電壓光譜(400-1000nm)
● 金或不銹鋼探針,直徑0.05mm to 20mm
● 相對(duì)濕度控制和氮?dú)猸h(huán)境箱
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