ME-L 光學(xué)鍍膜橢偏儀
- 公司名稱 蘇州福佰特儀器科技有限公司
- 品牌
- 型號(hào) ME-L
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2024/11/5 12:27:37
- 訪問(wèn)次數(shù) 3187
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實(shí)驗(yàn)室儀器檢測(cè)與整體方案測(cè)試:RoHS2.0整體測(cè)試方法、GCMS氣相質(zhì)譜、LC液相、FT-IR紅外光譜、EDX能量色散光譜等
產(chǎn)地類別 | 國(guó)產(chǎn) | 價(jià)格區(qū)間 | 10萬(wàn)-30萬(wàn) |
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名 稱:光學(xué)鍍膜橢偏儀
型 號(hào):ME-L
品 牌:頤光
光學(xué)鍍膜橢偏儀在手機(jī)蓋板中的應(yīng)用
光學(xué)鍍膜就好比女士化妝,不僅可使玻璃蓋板、背板更漂亮,也可以起到抗氧化、耐酸堿等作用,所以在如今這個(gè)“看臉”的時(shí)代,蓋板的光學(xué)鍍膜是非常重要的,目前常見(jiàn)的包括AR、AF、AG及后蓋顏色膜等鍍膜應(yīng)用。
光學(xué)鍍膜橢偏儀蓋板光學(xué)鍍膜痛點(diǎn)分析
1、AR膜透過(guò)率不合格NG
2、顏色膜調(diào)色困難,周期長(zhǎng)。
3、量產(chǎn)過(guò)程產(chǎn)品不穩(wěn)定,存在色差。
橢偏儀在光學(xué)鍍膜各階段的作用
造成蓋板光學(xué)鍍膜產(chǎn)品不良的主要因素在于:
A;仿真設(shè)計(jì)調(diào)用材料折射率與鍍膜生產(chǎn)中實(shí)際材料折射率不符。
B;鍍膜設(shè)備實(shí)際鍍層厚度與膜系設(shè)計(jì)要求不符。
C;量產(chǎn)過(guò)程對(duì)鍍膜設(shè)備穩(wěn)定性/均勻性缺乏有效評(píng)估手段。
橢偏儀可以有效測(cè)量修正上述影響因子,為蓋板量產(chǎn)保駕護(hù)航。
1:膜系設(shè)計(jì)——膜層實(shí)際折射率的標(biāo)定
★鍍膜實(shí)際折射率的影響因素:供氧量、真空度、電子槍光斑大小、溫度等
★橢偏儀可直接測(cè)量獲得薄膜材料的光學(xué)常數(shù)和薄膜厚度,因此通過(guò)鍍膜機(jī)在Si襯底或玻璃襯底上鍍單層SiO2、TiO2、Nb2O5、In薄膜,可直接準(zhǔn)確測(cè)量獲得薄膜的光學(xué)常數(shù)。
★通過(guò)調(diào)整鍍膜機(jī)參數(shù),以橢偏儀測(cè)量獲得的單層SiO2、TiO2、Nb2O5、In薄膜光學(xué)常數(shù)為反饋,將薄膜材料光學(xué)常數(shù)調(diào)整至狀態(tài)。此時(shí)對(duì)應(yīng)的鍍膜機(jī)參數(shù)即為厚度鍍膜時(shí)所需設(shè)定的終參數(shù)。
2:工藝研發(fā)——鍍膜設(shè)備tolling校正
★通常來(lái)說(shuō),鍍膜機(jī)通過(guò)晶振來(lái)控制鍍膜厚度,而實(shí)際上由于這種晶振式膜厚儀的精度不足,導(dǎo)致實(shí)際鍍膜厚度與設(shè)定鍍膜厚度存在較大偏差。在鍍膜機(jī)中,可通過(guò)工具因子(Tooling值)控制鍍膜機(jī)的蒸鍍速率,進(jìn)而可對(duì)實(shí)際鍍膜厚度進(jìn)行調(diào)控。
★橢偏儀可以準(zhǔn)確測(cè)量獲得薄膜的厚度,因此可用于校正鍍膜機(jī)的工具因子(Tooling值),使實(shí)際鍍膜厚度與設(shè)定鍍膜厚度*。
3;量產(chǎn)監(jiān)控——實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)各項(xiàng)鍍膜指標(biāo)
★鍍膜膜厚是否在設(shè)計(jì)范圍。
★材料折射率有無(wú)顯著波動(dòng)。
★透過(guò)率是否滿足工藝需求。
★色度值是否滿足工藝需求。
★反射率是否滿足工藝需求。
光學(xué)鍍膜橢偏儀售后服務(wù):
1、廠家貨源正品
貨源有保障,可以根據(jù)客戶不同測(cè)試需求,提供不同測(cè)試方案。
2、關(guān)于售后
4小時(shí)電話響應(yīng),24小時(shí)內(nèi)安排上門服務(wù)。終生維護(hù)。
3、關(guān)于發(fā)貨
到款4-5天內(nèi)到貨,江蘇、深圳區(qū)域第二天可以到貨。