Talos F200i掃描透射電鏡FEI電鏡，賽默飛電鏡，效率更高，運(yùn)用更靈活， 一更適用于材料科學(xué)。賽默飛世爾科技xin的用于高分辨率 成像和分析應(yīng)用的Tabs™ F200i S/TEM。是一款專為滿足各種材料科學(xué)樣品和應(yīng)用的性能和效率要 求而設(shè)計(jì)的電壓范圍為20-200 kV的場(chǎng)發(fā)射掃描/透射電 子顯微鏡。

其標(biāo)準(zhǔn)的X-TWIN物鏡極靴間距，在應(yīng)用中具有大靈活 性-結(jié)合再現(xiàn)性能高的鏡筒設(shè)計(jì)，為高分辨率2D和3D 表征，原位動(dòng)態(tài)觀測(cè)及電子衍射應(yīng)用創(chuàng)造了機(jī)會(huì)。    Talos

Talos F200i掃描透射電鏡FEI電鏡，賽默飛電鏡F200i S/TEM 配備了 4kx4k Ceta 16M 相機(jī)，可在 64 位 平臺(tái)上大視場(chǎng)高靈敏度快速成像。

Tabs F200i S/TEM專為多用戶和多學(xué)科環(huán)境設(shè)計(jì)，并配 備了 Thermo Scientific Velox 用戶界面。Velox 在所有 賽默飛世爾科技TEM平臺(tái)上共享，所以Talos F200i S/ TEM對(duì)于新用戶來說也是理想的選擇。此外，所有TEM 曰常調(diào)整都已經(jīng)自動(dòng)化，以提供*并可重復(fù)的日常設(shè) 置。自動(dòng)調(diào)芾功能簡化了初學(xué)者的學(xué)習(xí)過程，減少了多 用戶環(huán)境中的緊張關(guān)系，并使有經(jīng)驗(yàn)的操作員可以在較短時(shí) 間內(nèi)獲取數(shù)據(jù)信息。

，賽默飛電鏡主要優(yōu)勢(shì)

高質(zhì)置數(shù)據(jù)-快速。通過創(chuàng)新和直觀的Velox” 用戶界面，以非常簡單的方式獲得高質(zhì)量的TEM或 STEM圖像。

更適用于材料科學(xué)的靈活工具。在同一個(gè)工具上進(jìn)行 廣泛的材料科學(xué)研究。添加靈活的EDS分析來揭 示化學(xué)信息。

*原位動(dòng)態(tài)分析?？商砑尤S成像或原位分析樣品 桿?？焖贁z像機(jī)，智能軟件。而且，X-TWIN的大物 鏡間距在實(shí)現(xiàn)三維成像及原位數(shù)據(jù)采集的同時(shí)，對(duì)分 辨率和分析能力的影響極小。

高效率。超穩(wěn)定鏡筒設(shè)計(jì)；利用Sma「tCam實(shí)行遠(yuǎn)程 操作；物鏡功率恒定，可實(shí)現(xiàn)快速電鏡模式和高壓切 換；并可以快速，輕松地切換多用戶環(huán)境。

可重復(fù)的可靠數(shù)據(jù)。所有日常的TEM調(diào)整，如 聚焦，中心高度，光束偏移，聚光鏡光欄對(duì)中，電子束 傾斜樞軸點(diǎn)以及旋轉(zhuǎn)中心調(diào)整都是自動(dòng)的，以確保用 戶總是從*成像條件開始。實(shí)驗(yàn)可以多次重復(fù)，因 而用戶可以更多地關(guān)注研究課題本身而不是電鏡的使 用上。

快速大視場(chǎng)成像。大視場(chǎng)的4kx4K Ceta CMOS相機(jī) 可以在整個(gè)高壓范圍內(nèi)進(jìn)行高靈敏度和高速度的實(shí)時(shí) 數(shù)字變焦。..

設(shè)計(jì)緊湊₃更小的占地面積和尺寸便于在較小的空間 容納該設(shè)備，同時(shí)有助于維修和降低基礎(chǔ)設(shè)施和維護(hù) 成本。

，賽默飛電鏡靈活的EDS分析

可以在配置中添加側(cè)人式可伸縮能量色散X射線光譜（EDS)檢測(cè)器，以便做化學(xué)成分分析。為了進(jìn)一步提高效率，特別是在多用戶，多材料環(huán)境中，恒定功率物鏡和低滯后設(shè)計(jì)使直觀的可重現(xiàn)模式和高壓切換 成為可能。Talos F200i S/TEM還提供教育性在線幫助。 只需將鼠標(biāo)懸停在控制面板上，按F1鍵即可快速顯示相關(guān) 信息。

TEM and STEM MAPS軟件可以在整個(gè)樣品上進(jìn)行直觀的圖像導(dǎo)航，并在成像平臺(tái)之間進(jìn)行相關(guān)性分析。為了 在高分辨率下進(jìn)行大面積成像，MAPS軟件自動(dòng)獲取并縫 合圖像，以的質(zhì)量記錄整個(gè)感興趣區(qū)域。MAPS可以 跨多個(gè)工具使用，也可以在一個(gè)工具和工具中使用。它支持 來自其它顯微鏡，例如SEM，microCT或光學(xué)顯微鏡。