CCD光電性能測(cè)試系統(tǒng)
- 公司名稱 北京賽凡光電儀器有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號(hào)
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2019/7/1 14:28:38
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單色儀，光源，太陽(yáng)模擬器，太陽(yáng)能電池測(cè)試系統(tǒng)，平移臺(tái)，精密調(diào)整系統(tǒng)，光學(xué)平臺(tái)
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電氣 |
|---|
CCD光電性能測(cè)試系統(tǒng)又稱CCD成像電子學(xué)系統(tǒng)光電聯(lián)試定量測(cè)試設(shè)備。本系統(tǒng)能夠解決空間光學(xué)遙感器研制中光電成像器件選型、采取抗輻射加固設(shè)計(jì)及輻射校正設(shè) 計(jì)及為光電成像器件受輻照后性能變化的機(jī)理研究提供檢測(cè)手段等諸多科學(xué)問(wèn)題；同時(shí)能夠在業(yè)界對(duì)光電成像器件抗輻射性能評(píng)價(jià)的標(biāo)準(zhǔn)化和規(guī)范化起到積極推進(jìn)作用。
CCD光電性能測(cè)試系統(tǒng)技術(shù)參數(shù)：
工作波段：380nm～1000nm(其他波長(zhǎng)范圍可選)
動(dòng)態(tài)范圍：≥80dB
光譜分辨率：≤0.5nm
峰值波長(zhǎng)(測(cè)量精度)：優(yōu)于±1nm
中心波長(zhǎng)(測(cè)量精度)：優(yōu)于±1.2nm
光譜帶寬(測(cè)量精度)：優(yōu)于±2nm
相對(duì)光譜響應(yīng)度(測(cè)量精度)：優(yōu)于2%
有效測(cè)量區(qū)域：≤Φ120mm
暗噪聲：優(yōu)于±0.5mv
信噪比(測(cè)量精度)：優(yōu)于±5dB
飽和輸出電壓(測(cè)量精度)：優(yōu)于±20mV
響應(yīng)非均勻性(測(cè)量精度)：優(yōu)于1%
響應(yīng)非線性(測(cè)量重復(fù)性)：優(yōu)于2%
噪聲等效曝光量(測(cè)量精度)：優(yōu)于2%
光輻射響應(yīng)度(測(cè)量精度)：優(yōu)于2%
測(cè)試項(xiàng)目：
飽和輸出電壓(SV：Saturation Voltage)
暗噪聲或固態(tài)圖像噪聲(VNOISE or VFPN)
暗信號(hào)(DS：Dark Signal)
信噪比(SNR：Signal Noise Ratio)
響應(yīng)度非均勻性(PRNU：Photo Response Non Uniformity)
光輻射響應(yīng)度(R)
相對(duì)光譜響應(yīng)度(RS)
電荷轉(zhuǎn)移效率(CTE)
噪聲等效曝光量(NEE)
飽和曝光量(SE)
動(dòng)態(tài)范圍(DR)
非線性度(NL)
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