SmartSEM 觸摸式EVO MA顯微鏡

蔡司EVO系列實(shí)現(xiàn)了高清掃描電子顯微術(shù)與直觀人性化體驗(yàn)?zāi)Ｊ降?融合

您可以發(fā)現(xiàn)采用SmartSEM觸摸式用戶界面不僅使工作效率獲得實(shí)質(zhì)性改善，而且大大縮減了培訓(xùn)成本。在視覺檢查工作流程中，其不僅為所有用戶生成優(yōu)質(zhì)圖像，并且擁有高性能。SmartSEM觸摸功能在多用戶操作環(huán)境下是一項(xiàng)十分受歡迎的附加功能。

借助新的探測(cè)技術(shù)，您可以體驗(yàn)高質(zhì)量的高真空, 變壓及擴(kuò)壓模式成像。在信號(hào)產(chǎn)生及對(duì)比度中取得的顯著改善也預(yù)示著成像效率會(huì)得到進(jìn)一步提升。

EVO作為靈活易用的高清晰圖像成像與圖像分析工具能夠?qū)λ袠颖具M(jìn)行快速，準(zhǔn)確，重復(fù)成像

SmartSEM 觸摸式EVO MA顯微鏡用指尖控制您的設(shè)備

• 大大了縮短培訓(xùn)周期，并能快速捕獲優(yōu)質(zhì)圖像，令您從中受益。
• 專為以自動(dòng)化工作流程進(jìn)行視覺檢測(cè)任務(wù)的工業(yè)操作者與綜合使用環(huán)境下的學(xué)術(shù)用戶而設(shè)計(jì)。
• 通過滑動(dòng)手指即可在大范圍自動(dòng)獲取圖像，并能夠節(jié)約您的時(shí)間自動(dòng)進(jìn)行采集后分析。
• SmartSEM觸摸功能操作簡(jiǎn)單，輕松易用，并提供交互式工作流程控制。
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• 智能化成像—性能高效

• 在生產(chǎn)控制及質(zhì)量控制過程中，EVO的工作效率非常高。
• 將典型的工作流程從 400 多步操作簡(jiǎn)化為 15 步，以三種不同的放大倍率在 9 個(gè)樣本上對(duì)感興趣的 4 個(gè)點(diǎn)進(jìn)行成像。
• 智能化自動(dòng)成像技術(shù)為您提供感興趣區(qū)域然后進(jìn)行自動(dòng)化圖像采集。
• SmartBrowse會(huì)對(duì)您的實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)進(jìn)行收集然后以交互式地圖的模式呈現(xiàn)出這些數(shù)據(jù)。這樣一來，您可以對(duì)樣本有一個(gè)更深入全面的認(rèn)識(shí)。
  

• 靈活度高，易于使用

• 預(yù)留的升級(jí)路徑可以確保EVO能夠很好地應(yīng)對(duì)日益增長(zhǎng)的應(yīng)用需求
• 樣品室規(guī)格與電子源的選擇可以確保EVO能夠更好地契合成像，能譜儀，波普儀及背散射電子探測(cè)器應(yīng)用的需求
• 經(jīng)久耐用的載物臺(tái)能夠?yàn)榇笮椭匦推囍圃鞓I(yè)及航天航空器零部件成像提供出色的平臺(tái)
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  SmartSEM觸摸功能

  您可以從快速成像和降低的培訓(xùn)費(fèi)用中受益，而且學(xué)習(xí)周期短，支持自動(dòng)化無人照管操作。一個(gè)有序的工作流程導(dǎo)向型設(shè)計(jì)會(huì)將任務(wù)設(shè)置在易于理解的群組內(nèi)?？焖偌虞d、導(dǎo)航、采集和瀏覽圖像都采用常見熟悉的觸摸手勢(shì)。直接在屏幕上簡(jiǎn)單拖拽即可在大范圍興趣區(qū)域內(nèi)自動(dòng)獲取圖像。當(dāng)在小協(xié)作組內(nèi)工作時(shí)，一個(gè)“平放”的配置可以提升圖像共享和探索功能。

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• EVO MA

  EVO MA 擁有三種尺寸的樣品室及多種可選探測(cè)器和軟件。升級(jí)后的 EVO MA 可以進(jìn)行全環(huán)境掃描電鏡操作（EVO LS）。

   

  

  EVO MA 10 是用于分析多種材料樣品的掃描電鏡。

  配備大行程 5 軸電動(dòng)載物臺(tái)、多種輔助選件和易于操作的 SmartSEM 軟件；它是材料分析的出色成像解決方案。

  EVO MA 10 包括：

• 80x100x35mm 的 XYZ 軸行程
• 100mm 的zui大樣品高度
   

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  EVO MA 15 是適用于多種重量和尺寸樣品的掃描電鏡。

  應(yīng)用領(lǐng)域涵蓋地質(zhì)學(xué)、法醫(yī)學(xué)和失效分析。

  EVO MA 15 包括：

• 利用高級(jí)探測(cè)技術(shù)在變壓模式下獲取優(yōu)質(zhì)成像  
• EVO的級(jí)聯(lián)電流探測(cè)器中含有高靈敏度探測(cè)器電子，這樣能夠確保您即使在非常苛刻的變壓壞境下依然能夠獲取高清晰，低噪聲圖像 
•  級(jí)聯(lián)電流過載探測(cè)器作為EVO系列中出眾的一款產(chǎn)品，可以在高達(dá)3000pa的壓力下依然保持高品質(zhì)成像
• EVO探測(cè)器技術(shù)成為變壓模式及環(huán)境掃描電子顯微鏡的一個(gè)普遍標(biāo)準(zhǔn)
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• 125x125x50mm 的 XYZ 軸行程
• 145mm 的zui大樣品高度
• WDS 接口
  EVO MA 25 是適用于大尺寸和大重量樣品分析的掃描電鏡。

• 應(yīng)用領(lǐng)域涵蓋法醫(yī)學(xué)、博物館文物、汽車制造、航空、平板顯示器和印刷電路板。

  EVO MA 25 包括：

• 適用于130x130x60mm或130x130x80mm XYZ行程的BeamSleeve可選配置
• zui大樣品高度 210mm
• zui大重量和直徑分別為 5kg 和 300mm
• 4 象限和 5 象限背散射成像
• 同時(shí)支持兩個(gè)樣品室觀察視角

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• 集成式 EDS 解決方案：EVO Element

  高清晰度成像與低能量分析組合應(yīng)用

  EVO Element 是一種集成式 EDS 解決方案，擁有高可用性和低電壓靈敏度。僅需使用一臺(tái)計(jì)算機(jī)來控制 EDS 和 SEM，進(jìn)而大大提升了該集成化解決方案的易用性。同時(shí)，借助專門為顯微鏡和 EDS 操作設(shè)計(jì)的用戶界面可實(shí)現(xiàn)并行控制。

• 集成化：高清晰度成像與快速分析相結(jié)合，通過zui大化可用性獲取*結(jié)果
• 定制化：根據(jù)不同的用戶需求定制軟件
• 靈敏度：*的氮化硅薄膜窗增強(qiáng)了低能量檢測(cè)性能

• 利用EVO MA的靈活度和分析成像，可將其廣泛應(yīng)用于各種領(lǐng)域：

  表面磨損的滾珠軸承

  金屬與鋼材

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• 對(duì)金屬，骨骼以及非金屬進(jìn)行成像并分析它們的內(nèi)部結(jié)構(gòu)
• 對(duì)精煉鋼與高級(jí)合金進(jìn)行成分分析及晶體結(jié)構(gòu)分析
• 共面的能譜儀及背散射電子探測(cè)器幾何設(shè)計(jì)能夠?yàn)槲覀兂尸F(xiàn)晶界，晶相鑒別，應(yīng)變分析及滑移系活動(dòng)的特性與顯微結(jié)構(gòu)

• 鎳硫化礦背散射圖像

  自然資源

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• 地質(zhì)樣本的形態(tài)，礦物及成分分析
• 在變壓模式下，使用級(jí)聯(lián)電流探測(cè)器與高分辨背散射電子探測(cè)器對(duì)重要樣本進(jìn)行成像，獲取全面詳細(xì)的結(jié)構(gòu)及成分信息。
• 對(duì)清晰*的碳酸鹽地質(zhì)樣本進(jìn)行陰極熒光成像

• 鋁納米纖維

  材料研究

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• 檢測(cè)和開發(fā)材料
• 分析材料性能，如耐蝕性、耐熱性及涂鍍性能
• 使用配有電子束減速技術(shù)的高分辨背散射電子探測(cè)器與共面能譜儀及背散射電子探測(cè)器對(duì)材料進(jìn)行全面深入的分析 

• 集成電路上的表面缺陷

  半導(dǎo)體產(chǎn)品與電子產(chǎn)品

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• 對(duì)印刷電路板及板級(jí)部件進(jìn)行常規(guī)檢查
• 進(jìn)行電子束感生電流實(shí)驗(yàn)來判定組件性能
• 對(duì)樣本的腐蝕，裂縫及污染進(jìn)行可視化分析與成分分析

• 熔化的玻璃碎片

  取證

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• 對(duì)包含射擊殘留物，錢幣偽造及有毒物質(zhì)在內(nèi)的刑事證據(jù)進(jìn)行分析
• 行業(yè)的能譜儀幾何設(shè)計(jì)為高性能GSR分析提供可兼容的第三方專業(yè)GSR分析軟件
• 為子彈或彈藥筒分析案例提供子彈對(duì)比載物臺(tái)

   復(fù)合航天材料纖維

   航天航空與汽車制造

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• 大型樣品室及靈活耐用的載物臺(tái)能夠很好地對(duì)大型重型汽車零部件進(jìn)行處理
• 在變壓模式下對(duì)高級(jí)復(fù)合材料，鍍膜及織物進(jìn)行分析
• 對(duì)粒子及發(fā)