KP020單點(diǎn)開(kāi)爾文探針（非掃描）

開(kāi)爾文探針是一種非接觸、非破壞性振動(dòng)電容裝置用于導(dǎo)電材料的功函或半導(dǎo)體或絕緣體材料表面的表面電勢(shì)，表面功函由材料表面zui頂部的1-3層原子或分子決定，因而開(kāi)爾文探針是一種非常靈敏的表面分析技術(shù)，KP Technology公司目前可提供具有1-3 meV業(yè)界zui高分辨率的測(cè)試系統(tǒng)。

特點(diǎn)
● zui高的功函/表面電勢(shì)分辨率：1-3meV（2mm探針）
● 與壓電系統(tǒng)相比采用音圈驅(qū)動(dòng)具有很高的驅(qū)動(dòng)噪聲抑制
● 過(guò)零信號(hào)檢測(cè)系統(tǒng)極大的提高了分辨率，信噪比性能
● 測(cè)試和掃描時(shí)探針尖與樣品的高度調(diào)節(jié)功能可得到穩(wěn)定的、可靠的和重復(fù)的結(jié)果
● 探針參數(shù)全部采用數(shù)字控制

系統(tǒng)參數(shù)
● 2mm and 50μm探針
● 功函分辨率1-3meV（2mm探針），5-10meV（50μm探針，光學(xué)防震臺(tái)）
● 手動(dòng)高度控制（25.4mm KP 平移）
● 跟蹤系統(tǒng)自動(dòng)控制樣品和探針距離
● 過(guò)零信號(hào)檢測(cè)系統(tǒng)抑制寄生電容
軟件性能
● 數(shù)字控制所有開(kāi)爾文探針參數(shù)
● 簡(jiǎn)單的信號(hào)優(yōu)化設(shè)置過(guò)程
● 快速測(cè)量模式用于跟蹤實(shí)時(shí)功函變化(1000points/min at ~20meV分辨率)
選件
● 樣品加熱器 Sample Heater
● 可升級(jí)至掃描系統(tǒng)
● 可升級(jí)至RHC系統(tǒng)
● 表面光電壓模塊SPV020 and SPS030
● 鍍金探針