SS-50A AA*太陽光模擬器
- 公司名稱 北京三友鼎盛科技有限公司
- 品牌
- 型號(hào) SS-50A
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時(shí)間 2017/7/4 23:11:21
- 訪問次數(shù) 521
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GC,GPC,HPLC,實(shí)驗(yàn)室儀器,生命科學(xué)儀器,光學(xué)儀器,化學(xué)分析儀器,物性測(cè)試儀器,環(huán)保設(shè)備等
北京三友鼎盛科技有限公司集設(shè)備研發(fā)、集成和生產(chǎn)為一體,公司擁有專業(yè)的研發(fā)團(tuán)隊(duì)和服務(wù)體系,為客戶提供性能的測(cè)試設(shè)備和優(yōu)質(zhì)的售前售后服務(wù)。我公司提供的太陽光模擬器,在光譜匹配度、光強(qiáng)穩(wěn)定度和光強(qiáng)的均勻度方面*匹配AA*標(biāo)準(zhǔn)要求,而且針對(duì)客戶不同的應(yīng)用,我公司提供全套的產(chǎn)品方案
應(yīng)用方向:
- 各種太陽能電池的IV測(cè)試與判定;
- 光催化,光觸媒
- 液晶基板的測(cè)試與評(píng)價(jià)
- 化妝品,涂料,各種材料的耐光實(shí)驗(yàn)
- 光生物的檢查與測(cè)試
設(shè)備特點(diǎn):
- 全黑色防反射設(shè)計(jì);
- 整合高效聚光罩;
- 高精密光學(xué)積分器;
- 光照強(qiáng)度連續(xù)可調(diào);
- 輻射面積:50mm×50mm;
- 三維燈泡位置調(diào)整;
- 光譜不匹配性AM1.5G, 小于+/-25% Class A
- 光譜不穩(wěn)性:小于+/-1% Class A
- 照射不均勻性:小于+/-2% Class A 和小于+/-5% Class B
- 輻射強(qiáng)度:1.0Sun;
- 準(zhǔn)直角:優(yōu)于+/-4度;
- 快門控制時(shí)間:0.1S—9990Hours;
- 氙燈使用計(jì)時(shí)器裝置;
- 光譜匹配性,光強(qiáng)不穩(wěn)定性,光強(qiáng)不均勻性均滿足 ASTM E927-5 3A標(biāo)準(zhǔn)、IEC60904-9 2007 Ed2 3A標(biāo)準(zhǔn)、JIS C8912 3A標(biāo)準(zhǔn);
1.光譜匹配性分布:匹配ASTM E927-5 *標(biāo)準(zhǔn)、IEC60904-9 2007 Ed2*標(biāo)準(zhǔn)、JIS C8912 *標(biāo)準(zhǔn);
2.時(shí)間不穩(wěn)性測(cè)試:<2 %,匹配ASTM E927-5 *標(biāo)準(zhǔn)、IEC60904-9 2007 Ed2*標(biāo)準(zhǔn)、JIS C8912 *標(biāo)準(zhǔn);
3.光強(qiáng)不均勻性測(cè)量:<2%, (A級(jí)),匹配ASTM E927-5 標(biāo)準(zhǔn)、IEC60904-9 2007 Ed2標(biāo)準(zhǔn)、JIS C8912標(biāo)準(zhǔn);
4.太陽能電池IV測(cè)試軟件(可選):
- 四線法測(cè)試和兩線法測(cè)量模式
- 完整I-V曲線、完整P-V曲線測(cè)量功能,短路電流(Isc),開路電流(Voc),zui大功率點(diǎn)電壓(Vm),zui大功率點(diǎn)電流(Im),zui大功率值(Pmax),轉(zhuǎn)換效率(η),填充因子(FF),電流密度(Jsc),串聯(lián)電阻(Rs),并聯(lián)電阻(Rsh)。
- 暗電流測(cè)量功能;
- 客戶可自行選擇自動(dòng)或手動(dòng)測(cè)試數(shù)據(jù)保存;
- 客戶可自行選擇自動(dòng)或手動(dòng)生成測(cè)試報(bào)告;
- 測(cè)試數(shù)據(jù)可輸出為TXT文件;
- 支持32 bit Windows XP&7 操作系統(tǒng)
5.測(cè)試源表(可選):
*支持四線法和兩線法測(cè)試
*低噪聲
*高穩(wěn)定性
*整合電壓源、電流源、電壓表、電流表和電阻表
*電流測(cè)量范圍:10pA~10A(根據(jù)客戶測(cè)試要求選擇)
*電壓測(cè)量范圍:1uV~200V(根據(jù)客戶測(cè)試要求選擇)
6.標(biāo)準(zhǔn)電池(可選):
*Calibration certificates citing traceability to NREL and NIST or AIST.
7.測(cè)試夾具(可選):
*常溫四探針測(cè)試平臺(tái)
溫控型測(cè)試平臺(tái):室溫~85℃ 或 15℃~65℃
OPV和芯片測(cè)試夾具:
注:可根據(jù)客戶要求,設(shè)計(jì)匹配的各種測(cè)試夾具。
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