X射線衍射法來測量殘余奧氏體的百分比含量
X射線衍射法可以準確測定鋼熱處理后殘余奧氏體的含量,能夠為鋼鐵熱處理過程控制提供可靠保證,提高產(chǎn)品質量。
X射線衍射法是目前為止測量鋼體中殘余奧氏體含量zui準確的方法。根據(jù)ASTM E975-03的X射線測量鋼中殘余奧氏體近晶體隨機取向的標準方法,ARE X這款儀器能夠很輕松檢測出鋼體中殘余奧氏體的含量。
由于奧氏體相結構與其他相的結構不同,在不同的測試點,奧氏體會產(chǎn)生于鐵素體和馬氏體不同的衍射峰值。鋼中相的總數(shù)和與其衍射峰值的強度成正比。簡單來說,殘余奧氏體總的含量與奧氏體峰值的強度和其他相峰值強度比有關。我們利用X射線衍射儀采集四個衍射峰值來確定殘余奧氏體的濃度,兩個分別是鐵素體和馬氏體,兩個是奧氏體。通過四個峰值強度的對比可以獲得樣品中殘余奧氏體的百分比含量。
ARE X衍射儀可以測量奧氏體(220)(311)、鐵素體(200)(211)的衍射峰值強度,并分別提供四個奧氏體/鐵素體的峰值強度比。通過多衍射峰測量方式能夠減少晶體優(yōu)化取向的帶來的影響,同時對檢測到的碳化物干擾加以計算。
樣品制備
標準的金相濕研磨和拋光方法,表面拋光: 由碳化硅或氧化鋁砂紙 600 到 80 目;
表面研磨: 6 到 0.2 μ m 的金剛石或氧化鋁瓷。
ARE X衍射儀技術參數(shù)
X射線發(fā)生器 | zui大輸出功率 | 3KW |
輸出穩(wěn)定性 | <0.01% (電源供給10%的波動) | |
zui大輸出電壓 | 60KV | |
zui大輸出電流 | 60mA | |
電壓步寬 | 0.1KV | |
電流步寬 | 0.1mA | |
波動 | 0.03% rms < 1kHz, 0.75% rms > 1kHz | |
預熱與電路 | 自動預熱和斜坡控制電路 | |
輸入電壓 | 230 V +/- 10%, 50 或60 Hz, 單相 | |
X射線光管 | 光管類型 | 玻璃(可選陶瓷),Mo靶材,細焦斑(可根據(jù)要求選其他型號) |
焦斑尺寸 | 0.4 x 8 mm FF (可選0.4 x 12 mm LFF; 1 x 10 mm NF) | |
準直 | 單毛細管準直器:直徑1 - 2毫米 | |
zui大輸出電壓 | 3KV | |
測角儀 | 配置 | 垂直測角儀 |
掃描角范圍 | 27° < 2θ< 40° | |
角準確度 | ± 0.001° | |
樣品臺 | 尺寸 | 110 mm x 150 mm |
探測器 | 類型 | 高分辨率,帶直接耦合(微米)光纖輸入的X射線數(shù)碼攝像儀和帶制冷CCD |
機體 | 尺寸 | 658 mm X1059 mm X762 mm |
X射線泄露量 | < 1 mSv/年 (按照準則充分安全屏蔽) | |
處理單元 | 計算機類型 | 個人計算機 |
控制對象 | X射線發(fā)生器、探測器和數(shù)據(jù)庫 | |
基本數(shù)據(jù)處理 | 建立校準曲線,殘余奧氏體計算 |
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