德國(guó)STOE STADI P 粉末衍射儀
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
- 公司名稱 源順科技儀器有限公司
- 品牌
- 型號(hào) 德國(guó)STOE STADI P
- 產(chǎn)地 德國(guó)
- 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
- 更新時(shí)間 2018/5/14 9:00:00
- 訪問(wèn)次數(shù) 2738
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公司產(chǎn)品主要有:X射線衍射系統(tǒng);多功能穩(wěn)定度分析儀 ;奈米顆粒大小分析儀;光電制造和檢測(cè)系統(tǒng);粘度分析系統(tǒng);粒度及微流變分析系統(tǒng);數(shù)字全析顯微鏡;呈象橢偏儀,布氏角顯微鏡,LB 薄膜分析;接觸角及表面張力分析儀;沾筆式納米制程技術(shù);在線粘度計(jì);原子薄膜沉積儀。
模塊化設(shè)計(jì)使同一光源可以提供給兩個(gè)獨(dú)立(相同或不同)的測(cè)角儀,即透射/德拜-謝樂(lè)模式和布拉格-布倫塔諾模式,而且測(cè)角儀可以采用立式和臥式。
特點(diǎn):
透射/德拜-謝樂(lè)及布拉格-布倫塔諾模式
高分辨衍射模式,使得峰形銳利
Ge(111)單色器提供了純Kα1,可以供Fe, Co, Cu 和Mo靶自動(dòng)或手動(dòng)調(diào)整一個(gè)自由度即可以實(shí)現(xiàn)單色器的調(diào)整
可以分析空氣敏感或濕度敏感以及微量樣品(0.01-0.1mg)
高低溫附件
樣品臺(tái)以及探測(cè)器的互換非常方便
探測(cè)器:
閃爍計(jì)數(shù)器
位敏探測(cè)器
影像板探測(cè)器(IP)
軟件:
STOE Win XPOW
Search/Match物相分析軟件,支持 ICCD PDF2 /PDF4
CSD Rietveld 精修
LAYER反射分析
選配:
零散射箔透射模式樣品臺(tái)支架(適應(yīng)厚度調(diào)整)
開(kāi)放式和封閉式毛細(xì)管樣品臺(tái)支架
可調(diào)反射樣品(粉末或塊狀)支架
高低溫附件臺(tái),可調(diào)溫度在20K到2000K
自動(dòng)樣品轉(zhuǎn)換臺(tái)(透射模式30 /反射12)
重量: 約350Kg
尺寸: 1700*900*1900mm
聚焦圓直徑: 130mm
2范圍: 0-140
掃描模式: 自由選擇
角度重現(xiàn)性 0.0005
zui小步長(zhǎng) 0.0005
探測(cè)器: 線性位敏探測(cè)器,固體探測(cè)器,
閃爍計(jì)數(shù)器,IP探測(cè)器
輻射防護(hù): 全互鎖系統(tǒng)
高壓發(fā)生器: 3.6KW,水冷
計(jì)算機(jī): PC,32位Windows OS
特點(diǎn):
透射/德拜-謝樂(lè)及布拉格-布倫塔諾模式
高分辨衍射模式,使得峰形銳利
Ge(111)單色器提供了純Kα1,可以供Fe, Co, Cu 和Mo靶自動(dòng)或手動(dòng)調(diào)整一個(gè)自由度即可以實(shí)現(xiàn)單色器的調(diào)整
可以分析空氣敏感或濕度敏感以及微量樣品(0.01-0.1mg)
高低溫附件
樣品臺(tái)以及探測(cè)器的互換非常方便
探測(cè)器:
閃爍計(jì)數(shù)器
位敏探測(cè)器
影像板探測(cè)器(IP)
軟件:
STOE Win XPOW
Search/Match物相分析軟件,支持 ICCD PDF2 /PDF4
CSD Rietveld 精修
LAYER反射分析
選配:
零散射箔透射模式樣品臺(tái)支架(適應(yīng)厚度調(diào)整)
開(kāi)放式和封閉式毛細(xì)管樣品臺(tái)支架
可調(diào)反射樣品(粉末或塊狀)支架
高低溫附件臺(tái),可調(diào)溫度在20K到2000K
自動(dòng)樣品轉(zhuǎn)換臺(tái)(透射模式30 /反射12)
重量: 約350Kg
尺寸: 1700*900*1900mm
聚焦圓直徑: 130mm
2范圍: 0-140
掃描模式: 自由選擇
角度重現(xiàn)性 0.0005
zui小步長(zhǎng) 0.0005
探測(cè)器: 線性位敏探測(cè)器,固體探測(cè)器,
閃爍計(jì)數(shù)器,IP探測(cè)器
輻射防護(hù): 全互鎖系統(tǒng)
高壓發(fā)生器: 3.6KW,水冷
計(jì)算機(jī): PC,32位Windows OS